Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9703
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКовальчук, В.В.-
dc.contributor.authorАндриянов, Александр Викторович-
dc.contributor.authorРац, В.А.-
dc.contributor.authorПанченко, А.А.-
dc.contributor.authorАндріянов, Олександр Вікторович-
dc.contributor.authorAndriianov, Oleksandr-
dc.date.accessioned2019-11-28T07:21:18Z-
dc.date.available2019-11-28T07:21:18Z-
dc.date.issued2012-06-04-
dc.identifier.citationИсследование пространственной структуры нейтральной кислородной вакансии в кристаллическом SiO2 / В. В. Ковальчук, А. В. Андриянов, В. А. Рац, А. А. Панченко // Соврем. информ. и электрон. технологии : Междунар. науч.-практ. конф., г. Одесса, 4-8 июня 2012 г. - Одесса, 2012. - С. 269.ru
dc.identifier.urihttp://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9703-
dc.description.abstractПонимание структуры, механизма формирования и свойств дефектов как в аморфном, так и в кристаллическом SiO2 имеет важное значение в связи с широким применением этого материала в микроэлектронике. Особенная роль отводится точечным дефектам, которые позволяют управлять свойствами материалов и работой устройств, компонентной составляющей которых является SiO2.en
dc.language.isoruen
dc.publisherОдесса: Политехпериодикаen
dc.subjectточечные дефектыen
dc.subjectвакансияen
dc.subjectSiO2en
dc.titleИсследование пространственной структуры нейтральной кислородной вакансии в кристаллическом SiO2en
dc.typeConference proceedingsen
opu.kafedraКафедра інформаційної діяльністі та медіа-комунікацій = Кафедра документознавства та інформаційної діяльностіuk
opu.citation.firstpage269en
opu.citation.lastpage269en
opu.citation.conferenceXIII Международная научно-практическая конференция «Современные информационные и электронные технологии», Одессаen
opu.staff.idaav@opu.uaen
opu.conference.dates4-8 июля 2012en
Располагается в коллекциях:Матеріали конференцій, семінарів каф. ІДМК

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
siet2012_269.pdfТруды СИЭТ 2012614.72 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.