Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9704| Название: | Проблемы нанометрологии в перспективе применения наноструктур |
| Авторы: | Ковальчук, В.В. Андриянов, Александр Викторович Кравченко, Л.В. Андріянов, Олександр Вікторович Andriianov, Oleksandr |
| Ключевые слова: | нанометрология наноструктуры |
| Дата публикации: | 4-Июн-2012 |
| Издательство: | Одесса: Политехпериодика |
| Библиографическое описание: | Ковальчук, В. В. Проблемы нанометрологии в перспективе применения наноструктур / В. В. Ковальчук, А. В. Андриянов, Л. В. Кравченко // Соврем. информ. и электрон. технологии : Международ. науч.-практ. конф., г. Одесса, 4-8 июня 2012 г. - Одесса, 2012. - С. 314. |
| Краткий осмотр (реферат): | В связи с перспективами широкого использования наноструктур (НС) в электронике, катализе, медицине и других прикладных областях, возникла необходимость создания нового научного направления в метрологии – нанометрологии (НМ). Поэтому актуальной является идентификация общих физических свойств НС, которые могли бы выступать в качестве их метрологических характеристик (МХ). |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9704 |
| Располагается в коллекциях: | Матеріали конференцій, семінарів каф. ІДМК |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| siet2012_314.pdf | Труды СИЭТ 2012 | 614 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.