eONPUIR

A comprehensive method of a defect map forming based on thermal response patterns

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Levynskyi, Oleksandr
dc.contributor.author Левинський, Олександр Сергійович
dc.contributor.author Левинский, Александр Сергеевич
dc.contributor.author Oborskyi, Hennadii
dc.contributor.author Оборський, Геннадій Олександрович
dc.contributor.author Оборский, Геннадий Александрович
dc.date.accessioned 2024-05-14T14:35:34Z
dc.date.available 2024-05-14T14:35:34Z
dc.date.issued 2023
dc.identifier.citation Levinskyi, О., Oborskyi, Н. (2023). A comprehensive method of a defect map forming based on thermal response patterns. Odes`kyi Polytechnichnyi Universytet, Pratsi, 2 (68), 116–123. A comprehensive method of a defect map forming based on thermal response patterns / О. Levinskyi, Н. Oborskyi // Пр. Одес. політехн. ун-ту. – Одеса, 2023. – Вип. 2 (68). – P. 116–123. en
dc.identifier.issn 2076-2429
dc.identifier.uri http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/14369
dc.description.abstract Розглянуто сучасні підходи, що використовуються при аналізі результатів термографічного аналізу тестового об’єкта з метою виділення структурних особливостей з метою формування карти дефектів. Вказано на переваги застосування методів статистичного аналізу термограми з визначенням на кількісному рівні цільового показника сигнал-шум та оптимізацією процедури термографічного аналізу через пошук глобального екстремуму цільової функції. У відповідності до розробленої методики розглядається набір чотирьох результатів, що може бути отримано в результаті проведення термографічного аналізу тестового об’єкта, як то істинно позитивний результат, хибно позитивний результат, істинно негативний результат, хибно негативний результат. Аналіз результатів термографічного дослідження з метою виявлення потенційного дефекту для окремого елементу термограми визначається через функцію розподілу ймовірності температури, що співставляється з аналогічною функцією для однорідної ділянки тестового об’єкта. У рамках базової методики розподіл ймовірності для ділянки однорідної тестового об’єкта та ділянки тестового об’єкта зі структурними особливостями відрізняються показниками математичного сподівання і дисперсії. Через поділ області розподілу ймовірності температури пороговим значенням формуються чотири зоні: зона для якої дефект гарантовано відсутній, зона для якої дефект не фіксується у відповідності до вибору порогового значення, зона для якої дефект фіксується у відповідності до вибору порогового значення, зона для якої дефект гарантовано наявний. Базовий підхід, що на основі статистичних методів дозволяє визначити точність проведення термографічного аналізу для окремого елемента термограми через розрахунок співвідношення сигнал-шум на основі показників математичного сподівання і дисперсії розподілу ймовірності температури. У рамках розширеної схеми статистичного аналізу результатів термографічного дослідження визначається z- величина, базується на визначенні кількості сусідніх елементів термограми, що відповідають однорідній ділянці та ділянці з потенційними структурними особливостями. en
dc.description.abstract The study considers contemporary approaches used in the analysis of infrared thermography results of a test object aimed at identifying structural features for defect map formation. Emphasis is placed on the advantages of employing statistical analysis methods in thermogram analysis, involving the quantitative assessment of signal-to-noise ratio and optimizing the thermographic analysis procedure through global extremum search of the objective function. According to the developed methodology, a set of four possible outcomes resulting from the thermographic analysis of a test object is examined, including true positive, false positive, true negative, and false negative results. The analysis of thermographic procedure results for the detection of a potential defect in an individual thermogram element is determined through the probability distribution function of temperature, which is compared with a similar function for a homogeneous section of the test object. In the basic methodology, probability distribution parameters for a homogeneous section of the test object and a section with structural features differ in terms of mean and variance. By dividing the temperature probability distribution area with a threshold value, four zones are formed: a zone where a defect is guaranteed to be absent, a zone where a defect is not detected according to the chosen threshold value, a zone where a defect is detected according to the chosen threshold value, and a zone where a defect is guaranteed to be present. The basic approach, based on statistical methods, allows determining the accuracy of thermographic analysis for an individual thermogram element by calculating the signal-to-noise ratio based on the fundamental indicators of mean and variance of the temperature probability distribution. Within the extended scheme of statistical analysis of thermographic investigation results, a z-value is determined, based on the number of neighboring thermogram elements corresponding to a homogeneous section and a section with potential structural features. en
dc.language.iso en en
dc.publisher Одеса: [б. в.] en
dc.subject термограма en
dc.subject тепловий відгук en
dc.subject карта дефектів en
dc.subject статистичний аналіз en
dc.subject розподіл ймовірності en
dc.subject порогове значення en
dc.subject співвідношення сигнал-шум en
dc.subject thermogram en
dc.subject thermal response en
dc.subject defect map en
dc.subject statistical analysis en
dc.subject probability distribution en
dc.subject threshold value en
dc.subject signal-to-noise ratio en
dc.title A comprehensive method of a defect map forming based on thermal response patterns en
dc.title.alternative Комплексна методика формування карти дефектів на основі паттернів теплового відгуку en
dc.type Article en
opu.citation.journal Праці Одеського політехнічного університету en
opu.citation.firstpage 116 en
opu.citation.lastpage 123 en
opu.citation.issue 2(68) en


Файлы, содержащиеся в элементе

Этот элемент содержится в следующих коллекциях

Показать сокращенную информацию