eONPUIR

Пристрій для безконтактного вимірювання товщини покриття

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Стрельбицкий, В. В.
dc.contributor.author Горященко, К. Л.
dc.contributor.author Горященко, С. Л.
dc.contributor.author Гула, І. В.
dc.contributor.author Horiashchenko, K. L.
dc.contributor.author Horiashchenko, S. L.
dc.contributor.author Gula, I. V.
dc.contributor.author Strelbitskiy, V. V.
dc.date.accessioned 2017-04-23T10:56:54Z
dc.date.available 2017-04-23T10:56:54Z
dc.date.issued 2015-05
dc.identifier.citation Пристрій для безконтактного вимірювання товщини покриття / К. Л. Горященко, С. Л. Горященко, І. В. Гула, В. В. Стрельбицький // Соврем. информ. и электрон. технологии (СИЭТ-2015), г. Одесса, 25—29 мая 2015 : тез.докл. наук.-практ. конф. - Одесса, 2015. - С. 192-193. ru
dc.identifier.uri http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/1982
dc.description.abstract Запропоновано застосування методу багатократної коінциденції пакетів імпульсів для вимірювання товщини матеріалу, що нанесено на поверхню елементів конструкції машин та механізмів. Нанесення матеріалів на конструктивні елементи дає можливість зменшити вібрації механізмів при роботі. Запропонований безконтактний метод вимірювання використовується для вимірювання товщини шару від 10 мкм і більше з точністю 1—10%. en
dc.description.abstract The paper describes the structure of the coverage thickness measuring device. The coverage is used to suppress vibration in modern mechanical systems during their work. Three-channel phase measurer is con- structed for measuring distance between itself and the moving surface. Two-step measuring is proposed to archive better results. The device is based on fast programmable logic device EPM240T100C5N.
dc.language.iso uk en
dc.publisher Политехпериодика en
dc.subject покриття en
dc.subject товщина
dc.subject ноніусні вимірювання
dc.subject coverage
dc.subject thickness
dc.subject vernier method
dc.title Пристрій для безконтактного вимірювання товщини покриття en
dc.title.alternative Device for contactless measuring of coverage thickness
dc.type Conference proceedings en
opu.kafedra Кафедра Технології машинобудування
opu.citation.firstpage 192 en
opu.citation.lastpage 193 en
opu.citation.conference Современные информационные и электронные технологии (СИЭТ-2015) en
opu.staff.id strelbitsky.v.v@opu.ua en
opu.staff.id vict141174@gmail.com
opu.conference.dates 25—29 мая 2015 en


Файлы, содержащиеся в элементе

Этот элемент содержится в следующих коллекциях

Показать сокращенную информацию