Разделение профиля поверхности на систематическую и случайную составляющие

Abstract

Розроблено та апробовано методику розділення вихідного сигналу, що характеризує профіль обробленої поверхні, на систематичну і випадкову складові цього сигналу із застосуванням кореляційного аналізу вихідного сигналу. Показана можливість кількісної оцінки частки цих складових у вихідному сигналі на основі аналізу корелограми вихідного сигналу. Відзначено спадкоємність теоретико-імовірнісного і частотного підходів до аналізу вихідного сигналу. Відображено універсальність частотного підходу, який поширюється на зазначені складові сигналу.

Разработана и апробирована методика разделения исходного сигнала, характеризующего профиль обработанной поверхности, на систематическую и случайную составляющие этого сигнала с применением корреляционного анализа исходного сигнала. Показана возможность количественной оценки доли этих составляющих в исходном сигнале на основе анализа коррелограммы исходного сигнала. Отмечена преемственность теоретико-вероятностного и частотного подходов к анализу исходного сигнала. Отражена универсальность частотного подхода, который распространяется на указанные составляющие сигнала.

A technique based on the correlation analysis to divide an initial signal that indicates the machined surface profile into two components – systematic and random ones – is developed and approved on an example. A possibility of quantifying these components proportion in the original signal by analyzing the initial signal correlogram is shown. It is found acceptability between the theoretical-and-probabilistic approach and the frequency one in the analysis of the initial signal. Universality of the frequency approach, which applies to these components mentioned of the initial signal, is also reflected.