1. eONPUIR
  2. 2. Матеріали конференцій
  3. 2016
  4. СОВРЕМЕННЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ И ЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ. Одесса: Политехпериодика. 2016. N 17
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/5182
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКазаков, А. И.-
dc.contributor.authorАндриянов, А. В.-
dc.contributor.authorМиронов, В. С.-
dc.contributor.authorKazakov, A.-
dc.contributor.authorAndriianov, A.-
dc.contributor.authorMironov, B.-
dc.date.accessioned2017-09-14T22:16:52Z-
dc.date.available2017-09-14T22:16:52Z-
dc.date.issued2016-05-
dc.identifier.citationКазаков, А. И. Анализ электрофизических характеристик полученных тонкопленочных электролюминесцентных структур разного цвета свечения / А. И. Казаков, А. В. Андриянов, В. С. Миронов // Соврем. информ. и электрон. технологии (СИЭТ-2016) : тр. XVII Международ. науч.-практ. конф., г. Одесса, 23-27 мая 2016 г. - Одесса, 2016. - С. 234-235.ru
dc.identifier.issn2308-8060-
dc.identifier.urihttps://elibrary.ru/item.asp?id=26162740-
dc.identifier.urihttp://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/5182-
dc.description.abstractПроведен анализ электронных и оптических процессов в тонкопленочных электролюминесцентных структурах. Учтено влияние таких внешних факторов, как температура подложки, напряженность электрического поля, толщина слоя люминофора, концентрация легирующей примеси.en
dc.description.abstractThe analysis of electronic and optical processes in thin-film electroluminescent structures (TFELS) was carried out. Influence of such factors as substrate temperature, electric field strength, luminophor layer thickness, impurity concentration was considered.en
dc.language.isoruen
dc.publisherПолитехпериодика (Одесса)en
dc.subjectэлектролюминесцентные структурыen
dc.subjectяркость излученияen
dc.subjectвольт-яркостные характеристикиen
dc.subjectelectroluminescent structuresen
dc.subjectbrightness-voltage characteristicsen
dc.subjectbrightness of radiationen
dc.titleАнализ электрофизических характеристик полученных тонкопленочных электролюминесцентных структур разного цвета свеченияen
dc.title.alternativeThe analysis of electrophysical characteristics of the obtained thin-film electroluminescent structures of different colour of light emissionen
dc.typeArticleen
opu.kafedraКафедра інформаційних технологій проектування в електроніці й телекомунікаціяхuk
opu.citation.journalСОВРЕМЕННЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ И ЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИen
opu.citation.volumeТ. 1en
opu.citation.firstpage234en
opu.citation.lastpage235en
opu.citation.issue№ 17en
opu.staff.idkai@opu.uaen
opu.staff.idaav@opu.uaen
opu.staff.idmvs@opu.uaen
Располагается в коллекциях:Матеріали конференцій, семінарів каф. ІТПЕТ
СОВРЕМЕННЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ И ЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ. Одесса: Политехпериодика. 2016. N 17

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
234-235.pdfАНАЛИЗ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУЧЕННЫХ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫХ СТРУКТУР РАЗНОГО ЦВЕТА СВЕЧЕНИЯ297.47 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.