Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9651
Название: | Электрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3 |
Авторы: | Сухарев, Юрий Георгиевич Акулюшин, Игорь Леонидович Миронов, Валерий Семенович Андриянов, Александр Викторович Жеревчук, Владимир В. |
Ключевые слова: | тонкие пленки, диэлектрики, ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3 |
Дата публикации: | Апр-1994 |
Библиографическое описание: | Электрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3 / Ю. Г. Сухарев, И. Л. Акулюшин, В. С. Миронов, А. В. Андриянов, В. В. Жеревчук // Неорган. материалы. - 1994, Том.30, № 4. - С.556-558. |
Краткий осмотр (реферат): | Изучены электрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3 в зависимости от условий их получения. Введение в пленки ZrO2 и HfO2 оксидов редкоземельных элементов позволило стабилизировать электрофизические параметры в широких интервалах температур подложки и скоростей роста слоев. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9651 |
Располагается в коллекциях: | Статті каф. ІДМК |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Неорг_матер_1994.pdf | Электрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3 | 803.17 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.