eONPUIR
Поиск
Войти
eONPUIR
→
1. Періодичні видання ОНПУ
→
Applied Aspects of Information Technology = Прикладні аспекти інформаційних технологій = Прикладные аспекты информационных технологий
→
2021, Vol. 4, № 4
→
Поиск
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Поиск
Фильтры
Используйте фильтры для улучшения результатов поиска.
Current Filters:
Название
Автор
Тема
Дата выпуска
Contains
Equals
ID
Not Contains
Not Equals
Not ID
New Filters:
Название
Автор
Тема
Дата выпуска
Contains
Equals
ID
Not Contains
Not Equals
Not ID
Showing 1 out of a total of 1 results for collection: 2021, Vol. 4, № 4.
(0.008 seconds)
Отображаемые элементы 1-1 из 1
1
Sort Options:
Relevance
Title Asc
Title Desc
Issue Date Asc
Issue Date Desc
Results Per Page:
5
10
20
40
60
80
100
Побудова моделі дефектності програм:вибір метрик
Віталій Степанович, Яковина
;
Vitaliy S., Yakovyna
;
Іван Ігорович, Симець
;
Ivan I., Symets
(
Odessa National Polytechnic University
,
2021-12-21
)
Отображаемые элементы 1-1 из 1
1
Sort Options:
Relevance
Title Asc
Title Desc
Issue Date Asc
Issue Date Desc
Results Per Page:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь DSpace
Сообщества & Коллекции
Дата публикации
Автор
Название
xmlui.ArtifactBrowser.Navigation.browse_type
xmlui.ArtifactBrowser.Navigation.browse_kafedra
Эта коллекция
Дата публикации
Автор
Название
xmlui.ArtifactBrowser.Navigation.browse_type
xmlui.ArtifactBrowser.Navigation.browse_kafedra
Мой профиль
Войти
Зарегистрироваться
Поиск
Автору
Ivan I., Symets (1)
Vitaliy S., Yakovyna (1)
Віталій Степанович, Яковина (1)
Іван Ігорович, Симець (1)
Теме
defect; (1)
feature selection; (1)
machine learning algorithms; (1)
software defect prediction (1)
Software reliability; (1)
вибір ознак; (1)
дефект; (1)
машинне навчання; (1)
надійність програмного забезпечення; (1)
прогнозування дефектів програмного забезпечення (1)
... смотреть дальше
Дата выпуска
2021 (1)