eONPUIR

Аналіз можливостей системи металографічного аналізу, що розроблена на кафедрі МІМ НУ”ОП”

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Бельков, Євген Андрійович
dc.contributor.author Belkov, Evgen
dc.contributor.author Дерев’янченко, Олександр Георгійович
dc.contributor.author Derevianchenko, Oleksandr
dc.date.accessioned 2023-06-17T15:02:10Z
dc.date.available 2023-06-17T15:02:10Z
dc.date.issued 2023
dc.identifier.citation Бельков, Є. А. Аналіз можливостей системи металографічного аналізу, що розроблена на кафедрі МІМ НУ”ОП” / Є. А. Бельков ; наук. керівник О. Г. Дерев’янченко // Сучасні інформ. технології та телекомунікаційні мережі : тези доп. 58-ої наук. конф. молодих дослідників НУ Одес. політехніка-магістрантів. - Одеса, 2023. - С. 87-89. uk
dc.identifier.uri http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/13674
dc.description.abstract Розглядаються питання аналізу можливостей системи металографічного аналізу, що розроблена на кафедрі МІМ НУ”ОП”. en
dc.description.abstract Issues of analysis the possibilities of the metallographic analysis system, developed at the department of MIM NU"OP", are considered. en
dc.language.iso uk en
dc.publisher Національний університет "Одеська політехніка" en
dc.subject металографічний аналіз en
dc.subject комп’ютерний мікроскоп en
dc.subject дослідження структур en
dc.subject metallographic analysis en
dc.subject computer microscope en
dc.subject study of structures en
dc.title Аналіз можливостей системи металографічного аналізу, що розроблена на кафедрі МІМ НУ”ОП” en
dc.title.alternative Analysis of possibilities of the metallographic analysis system, developed at the department of MIM NU"OP" en
dc.type Conference proceedings en
opu.citation.firstpage 87 en
opu.citation.lastpage 89 en
opu.citation.conference Тези доповідей 58-ої наукової конференції молодих дослідників ОП-бакалаврів «Сучасні інформаційні технології та телекомунікаційні мережі» en
opu.conference.dates 10-17 травня 2023 р. en


Файлы, содержащиеся в элементе

Этот элемент содержится в следующих коллекциях

Показать сокращенную информацию