eONPUIR

Формализация представления последовательности тестовых гипотез при диагностировании электронных схем

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Верлань Андрей Анатольевич
dc.contributor.author Верлань, Андрій Анатолійович
dc.contributor.author Verlan, Andrei
dc.contributor.author Стертен, Ю.
dc.contributor.author Sterten, Yu.
dc.contributor.author Положаенко, Сергей Анатольевич,
dc.contributor.author Положаєнко, Сергій Анатолійович
dc.contributor.author Polozhaenko, Serhii
dc.date.accessioned 2017-11-02T09:08:47Z
dc.date.available 2017-11-02T09:08:47Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.citation Верлань, А. А. Формализация представления последовательности тестовых гипотез при диагностировании электронных схем / А. А. Верлань, Ю. Стертен, С. А. Положаенко // Інформатика та мат. методи в моделюванні = Informatics and Mathematical Methods in Simulation. – Одеса, 2016. – Т. 6, № 4. – С. 315–321. ru
dc.identifier.uri http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/6066
dc.description.abstract Разработана процедура формализованного представления последовательности пробных (тестовых) гипотез в ходе проверки исправности электронных устройств при их декомпозиции на подсхемы. Процедура доведена до практического алгоритма, обеспечивающего эффективный (с точки зрения минимизации трудоемкости) поиск неисправных подсхем электронного устройства. en
dc.description.abstract Розроблено процедуру формалізованого представлення послідовності пробних (тестових) гіпотез в ході перевірки працездатності електронних пристроїв при їх декомпозиції на підсхеми. Процедуру доведено до практичного алгоритму, який забезпечує ефективний (з точки зору мінімізації трудовитрат) пошук несправних підсхем електронного пристрою. en
dc.description.abstract The procedure of formalized representation of a sequence of test hypotheses in the verifying operation of electronic devices when they are decomposing in the sub circuit. The procedure brought to a practical algorithm, providing an efficient (in terms of minimizing labour input) troubleshooting sub circuits electronic device. en
dc.language.iso ru en
dc.publisher Odessa National Polytechnic University en
dc.subject электронное устройство en
dc.subject подсхема en
dc.subject диагностика en
dc.subject тестовая гипотеза en
dc.subject обучающая последовательность en
dc.subject алгоритм локализации неисправности en
dc.subject електронний пристрій en
dc.subject підсхема en
dc.subject діагностика en
dc.subject тестова гіпотеза en
dc.subject навчаюча послідовність en
dc.subject алгоритм пошуку несправності en
dc.subject electronic device sub circuit en
dc.subject diagnostics en
dc.subject test the hypothesis en
dc.subject the training sequence en
dc.subject fault localization algorithm en
dc.title Формализация представления последовательности тестовых гипотез при диагностировании электронных схем en
dc.title.alternative Формалізація представлення послідовності тестових гіпотез при діагностуванні електронних схем en
dc.title.alternative Formalized representation sequences of test hypotheses in the diagnosis of electronic circuits en
dc.type Article en
opu.kafedra Кафедра комп’ютеризованих систем управління uk
opu.citation.journal Інформатика та математичні методи в моделюванні en
opu.citation.volume 6 en
opu.citation.firstpage 315 en
opu.citation.lastpage 321 en
opu.citation.issue 4 en
opu.staff.id polozhaenko@opu.ua en


Файлы, содержащиеся в элементе

Этот элемент содержится в следующих коллекциях

Показать сокращенную информацию