eONPUIR

xmlui.ArtifactBrowser.ConfigurableBrowse.title.metadata.type

xmlui.ArtifactBrowser.ConfigurableBrowse.title.metadata.type

Отсортировать по: Порядку: Результаты:

  • Мокрицкий, В. А.; Мокрицький, В. А.; Mokritskii, V. A.; Маслов, О. В.; Маслов, О. В.; Maslov, O. V.; Банзак, О. В.; Банзак, О. В.; Banzak, O. V. (Odessa National Polytechnic University, 2014-05)
    Анализ опыта авторов в создании системы контроля состояния отработавшего ядерного топлива (ОЯТ), а именно глубины выгорания, начального обогащения и времени выдержки, проведен на основании измерений спектров собственного ...
  • Гаркавенко, А. С.; Мокрицкий, В. А.; Банзак, О. В.; Завадский, В. А.; Мокрицький, В. А.; Банзак, О. В.; Завадський, В. О.; Гаркавенко, О. С. (Odessa National Polytechnic University, 2013-12)
    При облучении полупроводниковых кристаллов мощными (сильноточными) импульсными электронными пучками высоких энергий обнаружен новый вид отжига, названный авторами ионизационным. В данной статье описаны экспериментальные ...
  • Гаркавенко, А. С.; Мокрицкий, В. А.; Банзак, О. В.; Завадский, В. А.; Гаркавенко, О. С.; Мокрицький, В. А.; Банзак, О. В.; Завадський, В. О.; Garkavenko, A. S.; Mokritskii, V. A.; Banzak, O. V.; Zavadskii, V. A. (Odessa National Polytechnic University, 2013-12)
    При облучении полупроводниковых кристаллов мощными (сильноточными) импульсными электронными пучками высоких энергий получен новый вид отжига, названный авторами «ионизационным», дано его теоретическое обоснование.
  • Ефименко, Анатолий Афанасьевич; Карлангач, Александр Петрович; Лазарев, Сергей Николаевич.; Єфіменко, Анатолій Афанасійович; Карлангач, Олександр Петрович; Лазарєв, Сергій Миколайович; Yefimenko, Anatolii; Karlanhach, Oleksandr; Lazarev, Serhii (Odessa National Polytechnic University, 2014-06)
    Предложен метод, алгоритм и реализующая его программа, предназначенные для определения оптимальных размеров печатных плат несущих конструкций и электронных средств различных направлений техники. В качестве критерия ...
  • Оборский, Г. А.; Савельева, О. С.; Шихирева, Ю. В.; Оборський, Г. О.; Савельева, О. С.; Шихірева, Ю. В.; Oborsky, G. O.; Savel’eva, O. S.; Shikhireva, Yu. V. (Odessa National Polytechnic University, 2013-03)
    Температурный режим радиоэлектронной аппаратуры является определяющим при экспресс-оценке ее эффективности при проектировании и эксплуатации. Предлагаемый метод заключается в фиксации теплового потока, испускаемого ...