Аннотация:
В связи с перспективами широкого использования наноструктур (НС) в электронике, катализе, медицине и других прикладных областях, возникла необходимость создания нового научного направления в метрологии – нанометрологии (НМ). Поэтому актуальной является идентификация общих физических свойств НС, которые могли бы выступать в качестве их метрологических характеристик (МХ).
