eONPUIR

Проблемы нанометрологии в перспективе применения наноструктур

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Ковальчук, В.В.
dc.contributor.author Андриянов, Александр Викторович
dc.contributor.author Кравченко, Л.В.
dc.contributor.author Андріянов, Олександр Вікторович
dc.contributor.author Andriianov, Oleksandr
dc.date.accessioned 2019-11-28T07:29:43Z
dc.date.available 2019-11-28T07:29:43Z
dc.date.issued 2012-06-04
dc.identifier.citation Ковальчук, В. В. Проблемы нанометрологии в перспективе применения наноструктур / В. В. Ковальчук, А. В. Андриянов, Л. В. Кравченко // Соврем. информ. и электрон. технологии : Международ. науч.-практ. конф., г. Одесса, 4-8 июня 2012 г. - Одесса, 2012. - С. 314. ru
dc.identifier.uri http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9704
dc.description.abstract В связи с перспективами широкого использования наноструктур (НС) в электронике, катализе, медицине и других прикладных областях, возникла необходимость создания нового научного направления в метрологии – нанометрологии (НМ). Поэтому актуальной является идентификация общих физических свойств НС, которые могли бы выступать в качестве их метрологических характеристик (МХ). en
dc.language.iso ru en
dc.publisher Одесса: Политехпериодика en
dc.subject нанометрология en
dc.subject наноструктуры en
dc.title Проблемы нанометрологии в перспективе применения наноструктур en
dc.type Conference proceedings en
opu.kafedra Кафедра інформаційної діяльністі та медіа-комунікацій = Кафедра документознавства та інформаційної діяльності uk
opu.citation.firstpage 312 en
opu.citation.lastpage 312 en
opu.citation.conference XIII Международная научно-практическая конференция «Современные информационные и электронные технологии», Одесса en
opu.staff.id aav@opu.ua en
opu.conference.dates 4-8 июня 2012 en


Файлы, содержащиеся в элементе

Этот элемент содержится в следующих коллекциях

Показать сокращенную информацию