Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9159| Название: | Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO2-Nd2O3 |
| Авторы: | Казаков, Анатолий Иванович Андриянов, Александр Викторович Миронов, Валерий Семенович Поляруш, Ольга Витальевна |
| Ключевые слова: | диэлектрические пленки частотные зависимости диэлектрических параметров |
| Дата публикации: | Янв-2003 |
| Библиографическое описание: | Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO2-Nd2O3 / А. И. Казаков, А. В. Андриянов, В. С. Миронов, О. В. Поляруш // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2003. - № 1. - С. 52-54. |
| Краткий осмотр (реферат): | Предложенная методика расчета диэлектрических параметров пленок системы HfO2-Nd2O3 позволяет с достаточной достоверностью прогнозировать их характеристики в широком частотном диапазоне. Использование описанной методики позволяет существенно сократить масштабы технологического эксперимента при оптимизации параметров диэлектрических пленок многокомпонентных систем в соответствии с практическими требованиями. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9159 |
| Располагается в коллекциях: | Статті каф. ІДМК |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| tkea_2003_1_52-54.pdf | Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003, №1 | 163.84 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.