Пропонується механізм моделювання несправностей, як адрес, на розумних структурах даних, які виключають
алгоритм моделювання вхідних тестових наборів для отримання тестової карти логічної функціональності. Розумні
структури даних представлені логічним вектором та його похідними як таблиці істинності та матриці. Карта тестування
подана матрицею, координати якої визначені комбінаціями всіх логічних несправностей, які перевіряються на двійкових
наборах вичерпного тесту. Побудова карти тестування орієнтована на архітектуру in-memory комп'ютингу на основі readwrite транзакцій, що робить механізм моделювання економічним по відношенню до часу моделювання та енерговитрат
завдяки відсутності центрального процесора. Логічний вектор як єдиний компонент вхідних даних не вимагає синтезу в
технологічно дозволену структуру елементів. Синтез розумних структур даних на основі чотирьох матричних операцій
створює карту тестування несправностей, як адрес, для будь-якої логіки. Запропонований механізм орієнтований на
сервісне обслуговування SoC IP-cores під керуванням стандарту IEEE 1500. За простотою та передбачуваністю розмірів
структур даних та відсутністю алгоритму моделювання тестових наборів запропонований механізм не має аналогів у design
and test індустрії.
A mechanism for modeling faults as addresses on smart data structures is proposed, which excludes the algorithm for modeling
input test sets to obtain a test map of logical functionality. Smart data structures are represented by a logical vector and its derivatives
in the form of truth tables and matrices. The test map is a matrix whose coordinates are defined by the combinations of all logical
faults that are tested on the binary sets of the exhaustive test. The construction of the test map is focused on the architecture of inmemory computing based on read-write transactions, which makes the simulation mechanism economical in terms of simulation time
and energy consumption due to the absence of a central processor. A logical vector as a single component of input data does not
require synthesis into a technologically permitted structure of elements. Synthesis of smart data structures based on four matrix
operations creates a fault test map like addresses for any logic. The proposed mechanism is focused on the service of SoC IP-cores
under the control of the IEEE 1500 standard. The proposed mechanism has no analogues in the design and test industry in terms of
simplicity and predictability of data structure sizes and the absence of a test set modeling algorithm
