Козина, Юлия Юрьевна; Козин, Андрей Александрович; Kozina, Y.; Kozin, A.; Козіна, Ю. Ю.; Козін, А. О.
(Odessa National Polytechnic University, 2014-03)
В условиях средне- и мелкосерийного производства изделий микроэлектроники применение
существующих дорогостоящих программных комплексов для выявления дефектов шаблонов приводит к неоп-
равданному росту стоимости их контроля. ...