Анализ электрофизических характеристик полученных тонкопленочных электролюминесцентных структур разного цвета свечения

Казаков, А. И.; Андриянов, А. В.; Миронов, В. С.; Kazakov, A.; Andriianov, A.; Mironov, B.

eONPUIR
→
2. Матеріали конференцій
→
2016
→
СОВРЕМЕННЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ И ЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ. Одесса: Политехпериодика. 2016. N 17
→
Посмотреть элемент

dc.contributor.author	Казаков, А. И.
dc.contributor.author	Андриянов, А. В.
dc.contributor.author	Миронов, В. С.
dc.contributor.author	Kazakov, A.
dc.contributor.author	Andriianov, A.
dc.contributor.author	Mironov, B.
dc.date.accessioned	2017-09-14T22:16:52Z
dc.date.available	2017-09-14T22:16:52Z
dc.date.issued	2016-05
dc.identifier.citation	Казаков, А. И. Анализ электрофизических характеристик полученных тонкопленочных электролюминесцентных структур разного цвета свечения / А. И. Казаков, А. В. Андриянов, В. С. Миронов // Соврем. информ. и электрон. технологии (СИЭТ-2016) : тр. XVII Международ. науч.-практ. конф., г. Одесса, 23-27 мая 2016 г. - Одесса, 2016. - С. 234-235.	ru
dc.identifier.issn	2308-8060
dc.identifier.uri	https://elibrary.ru/item.asp?id=26162740
dc.identifier.uri	http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/5182
dc.description.abstract	Проведен анализ электронных и оптических процессов в тонкопленочных электролюминесцентных структурах. Учтено влияние таких внешних факторов, как температура подложки, напряженность электрического поля, толщина слоя люминофора, концентрация легирующей примеси.	en
dc.description.abstract	The analysis of electronic and optical processes in thin-film electroluminescent structures (TFELS) was carried out. Influence of such factors as substrate temperature, electric field strength, luminophor layer thickness, impurity concentration was considered.	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Политехпериодика (Одесса)	en
dc.subject	электролюминесцентные структуры	en
dc.subject	яркость излучения	en
dc.subject	вольт-яркостные характеристики	en
dc.subject	electroluminescent structures	en
dc.subject	brightness-voltage characteristics	en
dc.subject	brightness of radiation	en
dc.title	Анализ электрофизических характеристик полученных тонкопленочных электролюминесцентных структур разного цвета свечения	en
dc.title.alternative	The analysis of electrophysical characteristics of the obtained thin-film electroluminescent structures of different colour of light emission	en
dc.type	Article	en
opu.kafedra	Кафедра інформаційних технологій проектування в електроніці й телекомунікаціях	uk
opu.citation.journal	СОВРЕМЕННЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ И ЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ	en
opu.citation.volume	Т. 1	en
opu.citation.firstpage	234	en
opu.citation.lastpage	235	en
opu.citation.issue	№ 17	en
opu.staff.id	kai@opu.ua	en
opu.staff.id	aav@opu.ua	en
opu.staff.id	mvs@opu.ua	en