Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Ковальчук, В.В. | |
dc.contributor.author | Андриянов, Александр Викторович | |
dc.contributor.author | Кравченко, Л.В. | |
dc.contributor.author | Андріянов, Олександр Вікторович | |
dc.contributor.author | Andriianov, Oleksandr | |
dc.date.accessioned | 2019-11-28T07:29:43Z | |
dc.date.available | 2019-11-28T07:29:43Z | |
dc.date.issued | 2012-06-04 | |
dc.identifier.citation | Ковальчук, В. В. Проблемы нанометрологии в перспективе применения наноструктур / В. В. Ковальчук, А. В. Андриянов, Л. В. Кравченко // Соврем. информ. и электрон. технологии : Международ. науч.-практ. конф., г. Одесса, 4-8 июня 2012 г. - Одесса, 2012. - С. 314. | ru |
dc.identifier.uri | http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9704 | |
dc.description.abstract | В связи с перспективами широкого использования наноструктур (НС) в электронике, катализе, медицине и других прикладных областях, возникла необходимость создания нового научного направления в метрологии – нанометрологии (НМ). Поэтому актуальной является идентификация общих физических свойств НС, которые могли бы выступать в качестве их метрологических характеристик (МХ). | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Одесса: Политехпериодика | en |
dc.subject | нанометрология | en |
dc.subject | наноструктуры | en |
dc.title | Проблемы нанометрологии в перспективе применения наноструктур | en |
dc.type | Conference proceedings | en |
opu.kafedra | Кафедра інформаційної діяльністі та медіа-комунікацій = Кафедра документознавства та інформаційної діяльності | uk |
opu.citation.firstpage | 312 | en |
opu.citation.lastpage | 312 | en |
opu.citation.conference | XIII Международная научно-практическая конференция «Современные информационные и электронные технологии», Одесса | en |
opu.staff.id | aav@opu.ua | en |
opu.conference.dates | 4-8 июня 2012 | en |