Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9651
Название: Электрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3
Авторы: Сухарев, Юрий Георгиевич
Акулюшин, Игорь Леонидович
Миронов, Валерий Семенович
Андриянов, Александр Викторович
Жеревчук, Владимир В.
Ключевые слова: тонкие пленки, диэлектрики, ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3
Дата публикации: Апр-1994
Библиографическое описание: Электрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3 / Ю. Г. Сухарев, И. Л. Акулюшин, В. С. Миронов, А. В. Андриянов, В. В. Жеревчук // Неорган. материалы. - 1994, Том.30, № 4. - С.556-558.
Краткий осмотр (реферат): Изучены электрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3 в зависимости от условий их получения. Введение в пленки ZrO2 и HfO2 оксидов редкоземельных элементов позволило стабилизировать электрофизические параметры в широких интервалах температур подложки и скоростей роста слоев.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.opu.ua/jspui/handle/123456789/9651
Располагается в коллекциях:Статті каф. ІДМК

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Неорг_матер_1994.pdfЭлектрофизические свойства пленок систем ZrO2-Y2O3, HfO2-Nd2O3, HfO2-Y2O3803.17 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.